YB∕T 5338—2006方法測試奧氏體含量的誤差影響

X射線衍射儀用Schulz反射法進行殘餘奧氏體含量測量，在測量過程中，試樣表麵與X射線的聚焦平麵重合，而且試樣在測量的過程中固定不動，通過θ和2θ 軸的轉動(滿足Bragg方程)來完成測量，這時所測量的隻是平行於試樣表麵的那些晶麵的衍射信息。

因此，影響XRD殘餘奧氏體定量的重要因素是晶粒的擇優取向。以馬氏體的(200)晶麵的衍射為例，如果晶粒雜亂無章分布，那麽從統計學上不同位置處(200)晶麵所占比例是一樣的；然而一旦存在擇優取向，則不同位置處(200)所占的比例將不同，這樣在X射線衍射儀測量時，有的位置參與衍射的(200)晶麵增多，導致測量的(200)衍射峰的強度增加；而有的位置參與衍射的(200)晶麵減少，導致測得的(200)衍射峰的強強度減弱。

而殘餘奧氏體含量測量的標準《YB/T 5338—2006鋼中殘餘奧氏體定量測定 X射線衍射儀法》是根據所測得的馬氏體、奧氏體衍射峰的強度比值進行計算的，這樣在殘餘奧氏體含量的真實值不變的前提下，由於擇優取向引起衍射峰強度改變，導致殘餘奧氏體的測量值(計算值)會與實際值差別很大，或者說存在較大的誤差。

通常，由於受樣品表麵狀況、晶粒取向、儀器參數等因素的影響，實際測量的衍射峰強度與理論值會存在一定的偏差。考慮到這個因素，YB/T5338-2006標準規定：在利用該標準進行殘餘奧氏體含量計算時，馬氏體或奧氏體衍射峰的實測強度比與理論強度比允許波動的相對範圍為±30%，即實測值和理論值偏差小於30%時可以采用該標準進行殘餘奧氏體含量的測量。

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